Minimization of the Line Resistance Impact on Memdiode-Based Simulations of Multilayer Perceptron Arrays Applied to Pattern Recognition
Aguirre, Fernando Leonel; Gomez, Nicolás M.; Pazos, Sebastián Matías; Palumbo, Félix; Suñé, Jordi,; Miranda, Enrique
29-10-2022
-RRAM
-Resistive-switching
-Cross-point
-Memory
-Memristor
-Neuromorphic
-Pattern
-Recognition; multilayer perceptron
open access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.
https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Article
         
https://ddd.uab.cat/record/236698

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Aguirre, Fernando Leonel; Rodríguez Fernández, Alberto; Pazos, Sebastián Matías; Suñé, Jordi,; Miranda, Enrique; Palumbo, Félix
Aguirre, Fernando Leonel; Pazos, Sebastián M.; Palumbo, Félix; Morell Pérez, Antoni; Suñé, Jordi,; Miranda, Enrique
Roldán, Juan B.; González-Cordero, Gerardo; Picos, Rodrigo; Miranda, Enrique; Palumbo, Félix; Jiménez-Molinos, Francisco; Moreno Pérez, Enrique; Maldonado, David; Baldomá, Santiago B.; Moner Al Chawa, Mohamad; de Benito, Carol; Stavrinides, Stavros G.; Suñé, Jordi; Chua, Leon O.
Jiménez Jiménez, David; Suñé, Jordi,; Miranda, Enrique; Tsurumaki-Fukuchi, Atsushi; Yamada, Hiroyuki; Sawa, Akihito; American Institute of Physics