Title:
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Estudio de cerámicas nanoestructuradas mediante difracción de rayos X y microscopía electrónica de alta resolución
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Author:
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Belarre Triviño, Francisco Javier; Belarre Triviño, Francisco Javier; Rodríguez-Viejo, Javier; Rodríguez-Viejo, Javier; Sandiumenge Ortiz, Felip; Sandiumenge Ortiz, Felip; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
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Abstract:
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Este proyecto trata sobre la determinación de las relaciones epitaxiales que se dan entre una capa de NGO (Oxido de Neodimio-Galio) y una capa depositada de CGO (Óxido de Cerio dopado con Gadolinio). Con ello buscamos estudiar indirectamente como podemos producir las dislocaciones antes citadas mediante la tensión superficial que se crea al dar lugar un crecimiento heteroepitaxial auto-ensamblado de nanohilos sobre un substrato. Para utilizar en el futuro esta cerámica nanoestructurada como plantillas de superconductores. Abordaremos este objetivo mediante dos vertientes distintas. Por un lado, mediante el estudio de una muestra mediante difracción de rayos X en dos dimensiones (DRX2). Y paralelamente mediante su visualización usando Microscopía Electrónica de Transmisión (MET). |
Abstract:
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Este proyecto trata sobre la determinación de las relaciones epitaxiales que se dan entre una capa de NGO (Oxido de Neodimio-Galio) y una capa depositada de CGO (Óxido de Cerio dopado con Gadolinio). Con ello buscamos estudiar indirectamente como podemos producir las dislocaciones antes citadas mediante la tensión superficial que se crea al dar lugar un crecimiento heteroepitaxial auto-ensamblado de nanohilos sobre un substrato. Para utilizar en el futuro esta cerámica nanoestructurada como plantillas de superconductores. Abordaremos este objetivo mediante dos vertientes distintas. Por un lado, mediante el estudio de una muestra mediante difracción de rayos X en dos dimensiones (DRX2). Y paralelamente mediante su visualización usando Microscopía Electrónica de Transmisión (MET). |
Subject(s):
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-Superconductors d'alta temperatura Materials -Raigs X Difracció |
Rights:
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open access
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https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ |
Document type:
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Treball final de grau |
Published by:
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Uri:
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https://ddd.uab.cat/record/45011
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