Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/130218

Atom Probe Tomography investigations on grain boundary segregation in polycrystalline Ti(C,N) and Zr(C,N) CVD coatings
El Azhari, Idriss; Barrirero, Jenifer; García, José; Soldera, Flavio; Llanes Pitarch, Luis Miguel; Mücklich, F.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal·lúrgica; Universitat Politècnica de Catalunya. CIEFMA - Centre d'Integritat Estructural, Micromecànica i Fiabilitat dels Materials
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials
-Chlorine
-Cobalt
-CVD polycrystalline coatings Atom Probe Tomography Grain boundary segregation Chlorine Cobalt
-Clor
-Cobalt
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Article - Esborrany
Article
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

El Azhari, Idriss; García, José; Zamanzade, Mohammad; Soldera, Flavio; Pauly, Christoph; Llanes Pitarch, Luis Miguel; Mücklich, Frank
Yalamanchili, Kumar; Wang, Fei; Aboulfadl, Hisham; Barrirero, Jenifer; Rogstrom, Lina; Jiménez Piqué, Emilio; Mücklich, F.; Tasnadi, Ferenc; Oden, M; Ghafoor, N
Fang, Shiqi; Soldera, Flavio; Rosenkranz, A.; Herrmann, T.; Bähre, Dirk; Llanes Pitarch, Luis Miguel; Mücklich, Frank T.
Fang, Shiqi; Llanes Pitarch, Luis Miguel; Engstler, M.; Baehre, D.; Soldera, Flavio; Muecklich, F.
Vilella, Eva; García, José; Alonso, Oscar; Diéguez, Angel