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Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/79266

Título: Analysis of SoftError Rates for future technologies
Autor/a: Riera Villanueva, Marc
Otros autores: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Canal Corretger, Ramon; Abella Ferrer, Jaume
Abstract:
Materia(s): -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica
-Integrated circuits
-Fiabilitat
-Fallades degudes als Neutrons
-Soft Error Rate
-Caracterització de la Tecnologia
-Reliability
-Neutron Radiation Failures
-Technology Characterization
-Circuits integrats
Derechos:
Tipo de documento: Trabajo fin de máster
Editor: Universitat Politècnica de Catalunya
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