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A detailed methodology to compute soft error rates in advanced technologies
Riera Villanueva, Marc; Canal Corretger, Ramon; Abella, Jaume; González Colás, Antonio María
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica
Integrated circuits
Software engineering
Error correction
Radiation hardening
Reconfigurable hardware
Advanced technology
Circuit description
Future technologies
Operating condition
Soft error rate
System reliability
Through current
Transient faults
Circuits integrats
Enginyeria de programari
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

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Ganapathy, Shrikanth; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María; Rubio Sola, Jose Antonio
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