Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/88794
Títol: | Behavioral data of thin-film single junction amorphous silicon (a-Si) photovoltaic modules under outdoor long term exposure |
---|---|
Autor/a: | Kichou, Sofiane; Silvestre Bergés, Santiago; Nofuentes Garrido, Gustavo; Torres Ramírez, Miguel; Chouder, Aissa; Guasch Murillo, Daniel |
Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Telemàtica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies; Universitat Politècnica de Catalunya. BAMPLA - Disseny i Avaluació de Xarxes i Serveis de Banda Ampla |
Abstract: | |
Abstract: | |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Energies -Photovoltaic power generation -Light-induced degradation(LID) -a-Si PVmodules -Stabilization period -Photovoltaic systems -a-Si PV module degradation analysis -Energia fotovoltaica -- Generació |
Drets: | http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ |
Tipus de document: | Article - Versió publicada Article |
Publicat per: | Elsevier |
Compartir: |