Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/83772

Título:	Análisis de errores en sistemas de medida de ruido. Sistema de medida de parámetros de ruido de transistores de microondas
Autor/a:	Pradell i Cara, Lluís; Comerón Tejero, Adolfo; Ramírez Marín, A.; Martorell, Jm
Otros autores:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció
Abstract:	Peer Reviewed
Materia(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques -Microwave transistors -Electromagnetic noise -Transistors de microones -Soroll electromagnètic
Derechos:	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Tipo de documento:	Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia
Editor:	Universidad Politécnica de Madrid (UPM)
Compartir:

Mostrar el registro completo del ítem