Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/101134
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors |
dc.contributor.author | Abella Ferrer, Jaume |
dc.contributor.author | Vera Rivera, Francisco Javier |
dc.contributor.author | Unsal, Osman Sabri |
dc.contributor.author | Ergin, Oguz |
dc.contributor.author | González Colás, Antonio María |
dc.contributor.author | Tschanz, James W. |
dc.date | 2008-12 |
dc.identifier.citation | Abella, J., Vera, F.J., Unsal, O., Ergin, O., Gonzalez, A., Tschanz, J. W. Refueling: Preventing wire degradation due to electromigration. "IEEE micro", Desembre 2008, vol. 28, núm. 6, p. 37-46. |
dc.identifier.citation | 0272-1732 |
dc.identifier.citation | 10.1109/MM.2008.92 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/101134 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://ieeexplore.ieee.org/document/4731173/ |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Arquitectura de computadors |
dc.subject | Integrated circuits |
dc.subject | Failure analysis |
dc.subject | Electromigration |
dc.subject | Circuits integrats |
dc.title | Refueling: Preventing wire degradation due to electromigration |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |