Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/20053

Failure transition distance-based importance sampling schemes for the simulation of repairable fault-tolerant computer systems
Carrasco, Juan A.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica
Markov processes
Markov, Processos de
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Mostra el registre complet del document