To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/32147

Advanced applications of scanning electron microscopy in geology
García Veigas, Francisco Javier; Prats Miralles, Eva; Domínguez Ximénez, Anna; Villuendas Latorre, Aránzazu
Universitat de Barcelona
2012-09-28
Microscòpia electrònica d'escombratge
Geologia
Anàlisi instrumental
Scanning electron microscopy
Geology
Instrumental analysis
(c) Universitat de Barcelona, 2012
info:eu-repo/semantics/bookPart
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Villuendas Latorre, Aránzazu; Jorba, Jordi; Roca, Antoni (Roca Vallmajor)
Cuevas Müller, Carles de las; Miralles, L. (Luis).; Teixidor, P.; García Veigas, Francisco Javier; Pueyo Mur, Juan José
 

Coordination

 

Supporters