Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/7845
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.date | 2005-04-30 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/7845 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | DMSD_99_2 |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Automàtica i control |
dc.subject | Markov processes |
dc.subject | Fault-tolerant computing |
dc.subject | Markov, Processos de |
dc.subject | Tolerància als errors (Informàtica) |
dc.title | Transient analysis of large Markov models with absorbing states using regenerative randomization |
dc.type | info:eu-repo/semantics/draft |
dc.type | info:eu-repo/semantics/report |
dc.description.abstract |