To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/2425

Experimental observation of oxygen-related defect state in pentacene thin films
Nadaždy, Vojtech; Durný, Rudolf; Puigdollers i González, Joaquim; Voz Sánchez, Cristóbal; Cheylan, Stephanie; Gmucová, K.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Pentacene
Thin films
Schottky diode
Attempt-to-escape frequency
Hydrogen atom replacement
Pentacene thin films
Defects in pentacene
Negative bias voltage
Organic semiconductors
Oxigen atom
Positive bias voltage
Schottky barrier
Nanotecnologia
Article
American Institute of Physics
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Cheylan, Stephanie; Puigdollers i González, Joaquim; Bolink, Henk J.; Coronado Miralles, Eugenio; Voz Sánchez, Cristóbal; Alcubilla González, Ramón; Badenes Guia, Gonçal
Krautz, D.; Lunedei, E.; Puigdollers i González, Joaquim; Badenes, Gonçal; Alcubilla González, Ramón; Cheylan, Stephanie
Dosev, D.; Puigdollers i González, Joaquim; Orpella, Albert; Voz Sánchez, Cristóbal; Fonrodona Turon, Marta; Soler Vilamitjana, David; Marsal Garví, Lluís F. (Lluís Francesc); Pallarés Curto, Jordi; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi; Alcubilla González, Ramón
Gerling Sarabia, Luis Guillermo; Voz Sánchez, Cristóbal; Alcubilla González, Ramón; Puigdollers i González, Joaquim
Masmitjà Rusiñol, Gerard; Gerling Sarabia, Luis Guillermo; Ortega Villasclaras, Pablo Rafael; Puigdollers i González, Joaquim; Martín García, Isidro; Voz Sánchez, Cristóbal; Alcubilla González, Ramón
 

Coordination

 

Supporters