Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/52852

Optimized back-focal-plane interferometry directly measures forces of optically trapped particles
Farré, Arnau; Marsà, Ferran; Montes Usategui, Mario
Universitat de Barcelona
-Interferometria
-Piezoelectricitat
-Làsers
-Instruments òptics
-Interferometry
-Piezoelectricity
-Lasers
-Optical instruments
(c) Optical Society of America, 2012
Article
Article - Versió publicada
Optical Society of America
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Català, Frederic; Marsà, Ferran; Montes Usategui, Mario; Farré, Arnau; Martín Badosa, Estela
Català, Frederic; Marsà, Ferran; Montes Usategui, Mario; Farré, Arnau; Martín Badosa, Estela
Marsà, Ferran; Farré, Arnau; Martín Badosa, Estela; Montes Usategui, Mario
Farré, Arnau; Shayegan, Marjan; López-Quesada, Carol; Blab, Gerhard A.; Montes Usategui, Mario; Forde, Nancy R.; Martín Badosa, Estela
López-Quesada, Carol; Fontaine, Anne-Sophie; Farré, Arnau; Joseph, Minu; Selva Sánchez, Javier; Egea Guri, Gustavo; Ludevid, Dolors; Martín Badosa, Estela; Montes Usategui, Mario