Advanced applications of scanning electron microscopy in geology

dc.contributor.author
García Veigas, Francisco Javier
dc.contributor.author
Prats Miralles, Eva
dc.contributor.author
Domínguez Ximénez, Anna
dc.contributor.author
Villuendas Latorre, Aránzazu
dc.date.issued
2012-09-28T14:15:14Z
dc.date.issued
2012-09-28T14:15:14Z
dc.date.issued
2012
dc.identifier
https://hdl.handle.net/2445/32147
dc.description.abstract
Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166
dc.description.abstract
Nowadays Scanning Electron Microscopy (SEM) is a basic and fundamental tool in the study of geologic samples. The collision of a highlyaccelerated electron beam with the atoms of a solid sample results in the production of several radiation types than can be detected and analysed by specific detectors, providing information of the chemistry and crystallography of the studied material. From this point of view, the chamber of a SEM can be considered as a laboratory where different experiments can be carried out. The application of SEM to geology, especially in the fields of mineralogy and petrology has been summarised by Reed (1996).The aim of this paper is to show some recent applications in the characterization of geologic materials.
dc.format
10 p.
dc.format
application/pdf
dc.language
eng
dc.publisher
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
dc.relation
Reproducció del document original
dc.relation
Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemical and biosciences research, Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part I. Materials technologies (MT), MT.5, 12 p.
dc.relation
http://hdl.handle.net/2445/32166
dc.rights
(c) Universitat de Barcelona, 2012
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.source
Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))
dc.subject
Microscòpia electrònica d'escombratge
dc.subject
Geologia
dc.subject
Anàlisi instrumental
dc.subject
Scanning electron microscopy
dc.subject
Geology
dc.subject
Instrumental analysis
dc.title
Advanced applications of scanning electron microscopy in geology
dc.type
info:eu-repo/semantics/bookPart
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion


Fitxers en aquest element

FitxersGrandàriaFormatVisualització

No hi ha fitxers associats a aquest element.

Aquest element apareix en la col·lecció o col·leccions següent(s)