Title: | Exploiting the KPFM capabilities to analyze at the nanoscale the impact of electrical stresses on OTFTs properties |
---|---|
Author: | Ruiz, Ana; Claramunt, Sergi; Crespo-Yepes, Albert; Porti i Pujal, Marc; Nafría i Maqueda, Montserrat; Xu, H.; Liu, C.; Wu, Q. |
Abstract: | |
Subject(s): | -CHC -Device level -KPFM -Nanoscale -NBTI -OTFTs -Electronic, Optical and Magnetic Materials -Condensed Matter Physics -Electrical and Electronic Engineering -Materials Chemistry |
Rights: | embargoed access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades. https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ |
Document type: | Article |
Published by: | |
Share: | |
Uri: | https://ddd.uab.cat/record/248842 |