Evidence of a minoritary monoclinic LaNiO2.5 phase in lanthanum nickelate thin films

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Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/128199

Título:	Evidence of a minoritary monoclinic LaNiO_2.5 phase in lanthanum nickelate thin films
Autor/a:	López Conesa, Lluís; Rebled, J. M. (José Manuel); Pesquera, David; Dix, Nico; Sánchez, Florencio; Herranz, Gervasi; Fontcuberta, Josep; Magén, César; Casanove, Marie Jose; Estradé Albiol, Sònia; Peiró Martínez, Francisca
Abstract:	LaNiO3 (LNO) thin films of 14 nm and 35 nm thicknesses grown epitaxially on LaAlO3 (LAO) and (LaAlO3)0.3(Sr2TaAlO6)0.7 (LSAT) substrates are studied using High Resolution Transmission Electron Microscopy (HRTEM) and High Angle Annular Dark Field (HAADF) imaging. The strain state of the films is studied using Geometric Phase Analysis (GPA). Results show the successful in-plane adaptation of the films to the substrates, both in the compressive (LAO) and tensile (LSAT) cases. Through the systematic analysis of HRTEM superstructure contrast modulation along different crystal orientations, localized regions of the monoclinic LaNiO2.5 phase are detected in the 35 nm films.
Materia(s):	-Ciència dels materials -Cristal·lografia -Pel·lícules fines -Òxids metàl·lics -Estructura electrònica -Materials science -Crystallography -Thin films -Metallic oxides -Electronic structure
Derechos:	(c) López Conesa, Lluís et al., 2017
Tipo de documento:	Artículo Artículo - Versión aceptada
Editor:	Royal Society of Chemistry
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