Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/78535

Establishing nanoscale heterogeneity with nanoscale force measurements
Chang, Yun-Hsiang, Yun-Hsiang; Olukan, Tuza; Lai, Chia-Yun; Santos, Sergio; Lin, Tze-Yu; Apostoleris, Harry; Font Teixidó, Josep; Barcons Xixons, Víctor; Chiesa, Matteo
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. CIRCUIT - Grup de Recerca en Circuits i Sistemes de Comunicació
-Àrees temàtiques de la UPC::Física
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Atomic force microscopy
-Microscopy
-Surface
-Dissipation
-Graphene
-Polymer
-Microscòpia de força atòmica
Artículo - Versión presentada
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Lai, Chia-Yun; Barcons Xixons, Víctor; Santos, Sergio; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Lai, Chia-Yun; Amadei, Carlo Alberto; Gadelrab, Karim Raafat; Tang, Tzu-Chieh; Verdaguer Prats, Albert; Barcons Xixons, Víctor; Font Teixidó, Josep; Colchero, Jaimer; Chiesa, Matteo
Gadelrab, Karim Raafat; Santos, Sergio; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor