Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/22468
Título: | Defect-oriented non-intrusive RF test using on-chip temperature sensors |
---|---|
Autor/a: | Abdallah, L.; Stratigopoulos, H. G.; Mir, S.; Altet Sanahujes, Josep |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura::Sensors i actuadors -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats -Temperature measuring instruments -Integrated circuits -- Verification -Integrated circuit testing -Low noise amplifiers -Radiofrequency amplifiers -Temperature sensors -Termometria -- Aparells i instruments -Circuits integrats -- Verificació |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia |
Editor: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Compartir: |