Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/21366
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Manich Bou, Salvador |
dc.contributor.author | Wamser, Markus S. |
dc.contributor.author | Sigl, Georg |
dc.date | 2013 |
dc.identifier.citation | Manich, S.; Wamser, M. S.; Sigl, G. Improving the security of scan path test using differential chains. A: Workshop on Trustworthy Manufacturing and Utilization of Secure Devices. "First Trudevice Workshop". Avignon: 2013. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/21366 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://trudevice.com/Workshop/program/21%20S.%20Manich%20TRUDEVICE_2013.pdf |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Seguretat informàtica |
dc.subject | Computer security |
dc.subject | security |
dc.subject | testability |
dc.subject | scan path |
dc.subject | attack |
dc.subject | smartcard |
dc.subject | bilbo |
dc.subject | Seguretat informàtica |
dc.title | Improving the security of scan path test using differential chains |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |