Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/20485
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Gómez Pau, Álvaro |
dc.contributor.author | Balado Suárez, Luz María |
dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
dc.date | 2013 |
dc.identifier.citation | Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J. M-S test based on specification validation using octrees in the measure space. A: IEEE European Test Symposium. "Proceedings of the 18th European Test Symposium". Avignon: 2013, p. 70-75. |
dc.identifier.citation | 978-1-4673-6376-1 |
dc.identifier.citation | 10.1109/ETS.2013.6569359 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/20485 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://www.lirmm.fr/ETS13/ |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics |
dc.subject | Electrical engineering. |
dc.subject | Electric circuits--Testing. |
dc.subject | Electronic circuits--Testing |
dc.subject | Lissajous Compositions |
dc.subject | Mixed-Signal Test |
dc.subject | Octrees |
dc.subject | Quadtrees |
dc.subject | Test Escapes |
dc.subject | Test Metrics |
dc.subject | Test Yield Loss |
dc.subject | Enginyeria electrònica |
dc.subject | Circuits electrònics -- Assaigs |
dc.title | M-S test based on specification validation using octrees in the measure space |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |