To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/1388
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica |
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. GRUP ISI - Grup d'Instrumentació, Sensors i Interfícies |
dc.contributor.author | Torrents Dolz, Josep M. |
dc.contributor.author | Pallàs Areny, Ramon |
dc.date | 2005-10-31 |
dc.identifier.citation | Torrents, J.M.; Pallas R. Error analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 2005, vol 54 núm 5, p. 2113-2116 |
dc.identifier.citation | 0018-9456 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/1388 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
dc.relation | TAP99-0742 |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria biomèdica::Electrònica biomèdica |
dc.subject | Impedance (Electricity) |
dc.subject | Error analysis (Mathematics) |
dc.subject | Electric impedance measurement |
dc.subject | Error analysis |
dc.subject | Residual impedance correction |
dc.subject | Impedance analyzers |
dc.subject | Asymmetrical test fixture |
dc.subject | Reference measurements |
dc.subject | Error estimation |
dc.subject | Open/short correction |
dc.subject | Short-circuit impedance |
dc.subject | Open-circuit impedances |
dc.subject | Impedància (Electricitat) |
dc.subject | Anàlisi d'error (Matemàtica) |
dc.title | Error analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |