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Extension of the impedance field method to the noise analysis of a semiconductor junction: Analytical approach
Gomila Lluch, Gabriel; Bulashenko, Oleg; Rubí Capaceti, José Miguel; Kochelap, V. A.(Viacheslav Aleksandrovich)
Universitat de Barcelona
Semiconductors
Soroll electrònic
Díodes
Transistors
Camps elèctrics
Microelectrònica
Semiconductors
Electronic noise
Diodes
Transistors
Electric fields
Microelectronics
(c) American Institute of Physics, 1998
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

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