Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/105996
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Institut de Tècniques Energètiques |
---|---|
dc.contributor | CERN Beam Instrumentation Group |
dc.contributor | Roncarolo, Federico |
dc.contributor | Llorca Piqué, Jordi |
dc.contributor.author | Navarro Fernández, Araceli |
dc.date | 2017-05 |
dc.identifier.citation | ETSETB-230.122987 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/105996 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | Universitat Politècnica de Catalunya |
dc.relation | http://infoteleco.upc.edu/incoming/pfc/122987/Poster_ANF_HoxWag.pdf |
dc.rights | S'autoritza la difusió de l'obra mitjançant la llicència Creative Commons o similar 'Reconeixement-NoComercial- SenseObraDerivada' |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació |
dc.subject | Particle accelerators |
dc.subject | Detectors |
dc.subject | Particle Accelerators |
dc.subject | Aceleradores de Particulas |
dc.subject | Detectores |
dc.subject | Acceleradors de partícules |
dc.subject | Detectors |
dc.title | Characterization and optimization of the CERN Secondary Emission Monitors (SEM) used for beam diagnostics |
dc.title | Caracterización y optimización de Monitores de Emisión Secundaria (SEM) en el CERN, utilizados para diagnósticos del haz |
dc.title | Caracterització i optimització de Monitors d'Emissió Secundària (SEM) al CERN, utilitzats per a diagnòstics del feix |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |