Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2099.1/10416

Characterization of stratified media using high-resolution thin film measurement techniques
Aguerri Cavero, Alberto
Laguarta Bertran, Ferran
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials
3D optical profiler
Numerical aperture
Thin film
Stratified media
Semiconductors de pel·lícula fina
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/masterThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Mostra el registre complet del document