Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2099.1/10416
Títol: | Characterization of stratified media using high-resolution thin film measurement techniques |
---|---|
Autor/a: | Aguerri Cavero, Alberto |
Altres autors: | Laguarta Bertran, Ferran |
Abstract: | |
Abstract: | |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials -3D optical profiler -Numerical aperture -Thin film -Stratified media -Semiconductors de pel·lícula fina |
Drets: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipus de document: | Treballs d'investigació/Fi de màster |
Publicat per: | Universitat Politècnica de Catalunya |
Compartir: |