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Título: | Characterization of stratified media using high-resolution thin film measurement techniques |
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Autor/a: | Aguerri Cavero, Alberto |
Otros autores: | Laguarta Bertran, Ferran |
Abstract: | |
Abstract: | |
Materia(s): | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials 3D optical profiler Numerical aperture Thin film Stratified media Semiconductors de pel·lícula fina |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | info:eu-repo/semantics/masterThesis |
Editor: | Universitat Politècnica de Catalunya |
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