Title: | A flexible characterization methodology of RRAM : application to the modeling of the conductivity changes as synaptic weight updates |
---|---|
Author: | Pedro, Marta; Martin Martinez, Javier; Rodríguez Martínez, Rosana; Bargallo Gonzalez, Mireia; Campabadal, Francesca; Nafría i Maqueda, Montserrat |
Abstract: | |
Abstract: | |
Subject(s): | -Automatic measurement setup -Conductivity control -Massive characterization -Modelling -Neuromorphic engineering -RRAM -Synaptic devices |
Rights: | open access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades. https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ |
Document type: | Article |
Published by: | |
Share: | |
Uri: | https://ddd.uab.cat/record/249224 |