To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2099.1/2990

Anàlisi de la predicció del yield de circuits integrats a nivell d’oblia:Influència de la posició i de les agrupacions
Castillo Muñoz, Raül
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Rodríguez Montañés, Rosa
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Bachelor Thesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters