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Electronic properties of intrinsic and doped amorphous silicon carbide films
Vetter, Michael; Voz Sánchez, Cristóbal; Ferré Tomas, Rafel; Martín García, Isidro; Orpella García, Alberto; Puigdollers i González, Joaquim; Andreu Batallé, Jordi; Alcubilla González, Ramón
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies
Àrees temàtiques de la UPC::Física::Física de l'estat sòlid::Semiconductors
Amorphous semiconductors
Amorphous silicon carbide
Conductivity
Passivation
Meyer–Neldel
Semiconductors amorfs
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

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Voz Sánchez, Cristóbal; Martín García, Isidro; Orpella García, Alberto; Puigdollers i González, Joaquim; Vetter, Michael; Alcubilla González, Ramón; Soler Vilamitjana, David; Fonrodona, Marta; Bertomeu Balaguero, Joan; Andreu Batallé, Jordi
Muñoz Cervantes, Delfina; Voz Sánchez, Cristóbal; Fonrodona, Marta; Garin Escriva, Moises; Orpella García, Alberto; Vetter, Michael; Puigdollers i González, Joaquim; Alcubilla González, Ramón; Villar, F; Bertoeu, J; Andreu Batallé, Jordi
Puigdollers i González, Joaquim; Voz Sánchez, Cristóbal; Orpella García, Alberto; Martín García, Isidro; Soler Vilamitjana, David; Fonrodona, Marta; Bertomeu Balaguero, Joan; Andreu Batallé, Jordi; Alcubilla González, Ramón
Muñoz Cervantes, Delfina; Voz Sánchez, Cristóbal; Martín García, Isidro; Orpella García, Alberto; Puigdollers i González, Joaquim; Alcubilla González, Ramón; Villar, F; Bertomeu Balaguero, Joan; Andreu Batallé, Jordi; Damon-Lacoste, J; Cabarrocas, Roca I P
 

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