Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/117423
Títol: | Imaging Nanometer Phase Coexistence at Defects During the Insulator−Metal Phase Transformation in VO2 Thin Films by Resonant Soft X‑ray Holography |
---|---|
Autor/a: | Vidas, Luciana; Günther, Christian M.; Miller, Timothy A.; Pfau, Bastian; Perez-Salinas, Daniel; Martínez, Elías; Schneider, Michael; Guehers, Erik; Gargiani, Pierluigi; Valvidares, Manuel; Marvel, Robert E.; Hallman, Kent A.; Haglund, Richard F.; Eisebitt, Stefan; Wall, Simon |
Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Institut de Ciències de l'Educació |
Abstract: | |
Abstract: | |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Física -Holography -holography -Holografia |
Drets: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipus de document: | Article - Versió presentada Article |
Publicat per: | ACS |
Compartir: |