To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/107362
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Arumi Delgado, Daniel |
dc.contributor.author | Gonzalez, Mireia B. |
dc.contributor.author | Campabadal, Francesca |
dc.date | 2017-06-25 |
dc.identifier.citation | Arumi, D., Gonzalez, M.B., Campabadal, F. RRAM serial configuration for the generation of random bits. "Microelectronic engineering", 25 Juny 2017, vol. 178, p. 76-79. |
dc.identifier.citation | 0167-9317 |
dc.identifier.citation | 10.1016/j.mee.2017.04.043 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/107362 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167931717301855 |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Integrated circuits |
dc.subject | Circuits integrats -- Disseny i construcció -- Mesures de seguretat |
dc.title | RRAM serial configuration for the generation of random bits |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract |