Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/90027

Microcantilever Displacement Measurement Using a Mechanically Modulated Optical Feedback Interferometer
Azcona Guerrero, Francisco Javier; Jha, Ajit; Yáñez Alvarado, Carlos René; Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica
Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials
Optical fiber detectors
Atomic force microscopy
Resolution (Optics)
Nanoscience
Measuring instruments
optical feedback interferometry
displacement measurement
nanometric resolution
atomic force microscopy
Detectors de fibra òptica
Microscòpia de força atòmica
Nanociència
Mesurament -- Instruments
Detectors òptics
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Perchoux, Julien; Quotb, Adam; Atashkhooei, Reza; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Ramírez Miquet, Evelio E.; Bernal, Olivier; Jha, Ajit; Luna Arriaga, Antonio; Yáñez Alvarado, Carlos René; Caum Aregay, Jesús; Bosch, Thierry; Royo Royo, Santiago
Jha, Ajit; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Yáñez Alvarado, Carlos René; Royo Royo, Santiago
Azcona Guerrero, Francisco Javier; Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago; Méndez Astudillo, Jorge; Jha, Ajit
Arasanz Tena, Andrés; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago; Jha, Ajit; Pladellorens Mallofré, Josep
Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago; Jha, Ajit