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MOSFET degradation dependence on input signal power in a RF power amplifier
Crespo Yepes, Albert; Barajas Ojeda, Enrique; Martin Martínez, Javier; Mateo Peña, Diego; Aragonès Cervera, Xavier; Rodríguez Martínez, Rosana; Nafría Maqueda, Montserrat
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Components electrònics::Transistors
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Metal oxide semiconductors
CMOS
MOSFET degradation
RF power amplifier
RF stress
Aging
Transistors MOSFET
Semiconductors
Metall-òxid-semiconductors complementaris
Metall-òxid-semiconductors
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
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