Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea

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RECERCAT Home > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > View document

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dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció
dc.contributor.author	Pradell i Cara, Lluís
dc.contributor.author	Purroy, Francesc
dc.contributor.author	Subirats, M.
dc.contributor.author	Ballester, A.
dc.contributor.author	Torres Torres, Francisco
dc.contributor.author	O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
dc.contributor.author	Corbella Sanahuja, Ignasi
dc.date	1994
dc.identifier.citation	Pradell, L., Purroy, F., Subirats, M., Ballester, A., Torres, F., O'callaghan, J., Corbella, I. Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea. A: Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio. "Unión Científica Internacional de Radio: IX Symposium Nacional: Las Palmas de Gran Canaria, 21-23 de Septiembre de 1994: actas, tomo III". Las Palmas de Gran Canaria: 1994, p. 1349-1353.
dc.identifier.citation	G.C. 1168-1994
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2117/88024
dc.language.iso	spa
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica
dc.subject	Microwaves
dc.subject	Transistors
dc.subject	Microones
dc.subject	Transistors
dc.title	Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.description.abstract	The AMR Group has an automatized bench for the measurement of DC-characteristics, [S] parameters (45 MHz- 40 GHz) and noise parameters (2-26.5 GHz) of microwave on-wafer transistors. The hardware configuration is described, as well as the software applications developed. The measurement procedures are commented in detail, in particular those concerning the noise-parameters extraction techniques. Experimental results show the bench performances.
dc.description.abstract	Peer Reviewed

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