Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/86599
Título: | Statistical lifetime analysis of memristive crossbar matrix |
---|---|
Autor/a: | Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electric engineering -Memristor -Uncertainty -Crossbar -Endurance -Process variability -RRAM -Emerging device -Enginyeria elèctrica -Electrònica -- Materials -Circuits elèctrics |
Derechos: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia |
Editor: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Compartir: |