Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/26264
Título: | Towards atomic force microscopy measurements using differential self-mixing interferometry |
---|---|
Autor/a: | Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago; Jha, Ajit |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials -Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física -Microscopy--Measurement -Interferometry -Atomic force microscopy -Self-mixing interferometry -AFM -lasers -Interferometria -Microscòpia de força atòmica -Òptica -- Mesuraments |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia |
Editor: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Compartir: |