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Título:
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Reliability challenges in design of memristive memories
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Autor/a:
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Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
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Otros autores:
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Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Materia(s):
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-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronics -Memristors -Memristors -Circuits elèctrics |
Derechos:
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Tipo de documento:
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Artículo - Versión presentada Objeto de conferencia |
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