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Application of the Feature Selective Validation Method to Pattern Recognition
Ventosa Llopart, Josep Oriol; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura::Compatibilitat electromagnètica
-Electromagnetic compatibility.
-Computational electromagnetics method
-data comparison
-feature selective validation (FSV) method
-pattern recognition
-validation
-COMPUTATIONAL ELECTROMAGNETICS CEM
-SYSTEM
-PERFORMANCE
-FSV
-Compatibilitat electromagnètica
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