Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/23388
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.date | 1994 |
dc.identifier.citation | Carrasco, J. Improving availability bounds using the failure distance concept. A: IFIP Working Conferences on Dependable Computing for Critical Applications. "Dependable computing for critical applications 4: [presented at the Fourth International IFIP Working Conference on Dependable Computing for Critical Applications held in San Diego, California on January 4 - 6, 1994]". Springer, 1994, p. 479-497. |
dc.identifier.citation | 978-3-7091-9398-3 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/23388 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | Springer |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Sistemes d'informació |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Probabilitat |
dc.subject | Markov processes |
dc.subject | Markov, Processos de |
dc.title | Improving availability bounds using the failure distance concept |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |