To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/21067
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.date | 1998-09 |
dc.identifier.citation | Carrasco, J. Tight steady-state availability bounds using the failure distance concept. "Performance evaluation", Setembre 1998, vol. 34, núm. 1, p. 27-64. |
dc.identifier.citation | 0166-5316 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/21067 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Probabilitat |
dc.subject | Markov processes |
dc.subject | Markov, Processos de |
dc.title | Tight steady-state availability bounds using the failure distance concept |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract |