Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/32165

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applications
López Fernández, Francisco
Universitat de Barcelona
07-11-2013
Espectrometria de masses
Anàlisi instrumental
Mass spectrometry
Instrumental analysis
(c) Universitat de Barcelona, 2012
info:eu-repo/semantics/bookPart
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Mostra el registre complet del document