Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/20064
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Wunderlich, H J |
dc.contributor.author | Herzog, M |
dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.contributor.author | Calderón, A |
dc.date | 1995 |
dc.identifier.citation | Wunderlich, H. [et al.]. Synthesis of IDDQ-testable circuits: integrating built-in current sensors. A: IEEE European Design and Automation Conf.. "Proc. IEEE European Design and Automation Conf.". 1995, p. 573-580. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/20064 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics |
dc.subject | Integrated circuits |
dc.subject | Circuits integrats |
dc.title | Synthesis of IDDQ-Testable Circuits: Integrating Built-in Current Sensors |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |