To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/17947
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics |
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Gómez Pau, Álvaro |
dc.contributor.author | Sanahuja Moliner, Ricard |
dc.contributor.author | Balado Suárez, Luz María |
dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
dc.date | 2012 |
dc.identifier.citation | Álvaro Gómez-Pau [et al.]. Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.. A: Design of Circuits and Integrated Systems Conference. "Proceedings of XXVIIth Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Avignon: 2012, p. 223-228. |
dc.identifier.citation | 978-2-9517461-1-4 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/17947 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Accelerometers. |
dc.subject | Acceleròmetres |
dc.title | Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation. |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |