Alloy inhomogeneities in InAlAs strained layers grown by MBE

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Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/32219

dc.contributor	Universitat de Barcelona
dc.contributor.author	Peiró Martínez, Francisca
dc.contributor.author	Cornet i Calveras, Albert
dc.contributor.author	Morante i Lleonart, Joan Ramon
dc.contributor.author	Clark, S. A.
dc.contributor.author	Williams, R. H.
dc.date	2012-10-08T12:08:11Z
dc.date	2012-10-08T12:08:11Z
dc.date	1992
dc.date	2012-10-08T12:08:11Z
dc.identifier.citation	0021-8979
dc.identifier.citation	061619
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2445/32219
dc.format	3 p.
dc.format	application/pdf
dc.language.iso	eng
dc.publisher	American Institute of Physics
dc.relation	Reproducció del document publicat a: http://dx.doi.org/10.1063/1.351083
dc.relation	Journal of Applied Physics, 1992, vol. 71, num. 5, p. 2470-2472
dc.relation	http://dx.doi.org/10.1063/1.351083
dc.rights	(c) American Institute of Physics , 1992
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject	Microscòpia electrònica
dc.subject	Pel·lícules fines
dc.subject	Feixos moleculars
dc.subject	Electron microscopy
dc.subject	Thin films
dc.subject	Molecular beams
dc.title	Alloy inhomogeneities in InAlAs strained layers grown by MBE
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.description.abstract	Transmission electron microscopy studies have been performed to characterize InxAl1−xAs layers grown by molecular beam epitaxy on (100) InP substrates. The first observations of compositional nonuniformities in strained InAlAs layers are reported. The coarse quasiperiodic structure present in each sample has been found to be dependent upon the growth parameters and the sample characteristics.

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