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dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
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dc.contributor | JZ Recielca |
dc.contributor | Zamorano Santillana, Ana |
dc.contributor | Miret Tomàs, Jaume |
dc.contributor.author | Fillat Fonoll, Josep |
dc.date | 2010-06-28 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2099.1/10370 |
dc.language.iso | spa |
dc.publisher | Universitat Politècnica de Catalunya |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Física::Física de l'estat sòlid::Semiconductors |
dc.subject | Semiconductors |
dc.subject | Test |
dc.subject | Frecuencia |
dc.subject | Calidad |
dc.subject | Semiconductor |
dc.subject | Piratería |
dc.subject | Fiabilidad |
dc.subject | Comunicación |
dc.subject | Protocolo |
dc.subject | Corriente |
dc.subject | Tensión |
dc.subject | Semiconductors |
dc.title | Sistema de control y mando para la verificación de las características de semiconductores de potencia |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |
dc.description.abstract |