To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2099.1/10370

Sistema de control y mando para la verificación de las características de semiconductores de potencia
Fillat Fonoll, Josep
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; JZ Recielca; Zamorano Santillana, Ana; Miret Tomàs, Jaume
-Àrees temàtiques de la UPC::Física::Física de l'estat sòlid::Semiconductors
-Semiconductors
-Test
-Frecuencia
-Calidad
-Semiconductor
-Piratería
-Fiabilidad
-Comunicación
-Protocolo
-Corriente
-Tensión
-Semiconductors
Bachelor Thesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters