To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/13457
| Title: | The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features |
|---|---|
| Author: | Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H. |
| Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control |
| Abstract: | |
| Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Física -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Nanotechnology -Atomic force microscopy -Microscòpia de força atòmica -Nanotecnologia |
| Rights: | Attribution 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ |
| Document type: | Article - Published version Article |
| Share: |
|
Related documents
Other documents of the same author
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.; Chiesa, Mateo