To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/1975
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
dc.contributor.author | O'Callaghan Castellà, Juan Manuel |
dc.contributor.author | Alegret Ginesta, Alexandre |
dc.contributor.author | Pradell i Cara, Lluís |
dc.contributor.author | Corbella Sanahuja, Ignasi |
dc.date | 1996-06-26 |
dc.identifier.citation | O'Callaghan, J.; Alegret, A.; Pradell, L.; Corbella, I. Ill conditioning loci in noise paramenter determination. Electronics letters, 1996, vol. 32, núm. 18, p. 1680-1681. |
dc.identifier.citation | 0013-5194 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/1975 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | IEE-INST ELEC ENG |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Teledetecció |
dc.subject | Microwave circuits |
dc.subject | Noise |
dc.subject | circuit noise |
dc.subject | microwave circuits |
dc.subject | two-port networks |
dc.subject | Smith chart |
dc.subject | accuracy degradation |
dc.subject | ill conditioning loci |
dc.subject | linear two-port |
dc.subject | microwave circuits |
dc.subject | noise figure |
dc.subject | noise parameter determination |
dc.subject | source reflection coefficients |
dc.subject | Circuits de microones |
dc.subject | Soroll |
dc.title | Ill conditioning loci in noise parameter determination |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |