Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/12283

Electromagnetic compatibility of CMOS circuits along the lifetime
Fernández García, Raúl; Ruiz, José María; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Física::Electromagnetisme
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Electromagnetism
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Electromagnetisme
Article - Versió publicada
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Ruiz, José María; Morata Cariñena, Marta
Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta; Fernández García, Raúl; Rottenberg, Xavier; De Raedt, Walter
Morata Cariñena, Marta; Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Fernández García, Raúl; Berbel Artal, Néstor; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta
Morata Cariñena, Marta; Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl