Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/11989

Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Manich Bou, Salvador; Figueras Pàmies, Joan; Di Carlo, Stefano; Prinetto, Paolo; Scionti, Alberto
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Electronic engineering
-Nanotecnologia
-Enginyeria electrònica -- Congressos
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Artículo - Versión publicada
Objeto de conferencia
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Di Carlo, Stefano; Renovell, Michel; Prinetto, Paolo; Figueras Pàmies, Joan
Di Carlo, Stefano; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Indaco, Marco; Renovell, Michel; Prinetto, Paolo; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Figueras Pàmies, Joan
Arumi Delgado, Daniel; Gómez Pau, Álvaro; Manich Bou, Salvador; Rodríguez Montañés, Rosa; Bargalló, Mireia; Campabadal, Francesca