To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/11966
Title: | Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis |
---|---|
Author: | Vatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronic engineering -Enginyeria electrònica -- Congressos |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Submitted version Conference Object |
Published by: | IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Share: |