Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/11000
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica |
dc.contributor.author | Jauregui Tellería, Ricardo |
dc.contributor.author | Riu Costa, Pere Joan |
dc.contributor.author | Silva Martínez, Fernando |
dc.date | 2010 |
dc.identifier.citation | Jauregui, R.; Riu, P.; Silva, F. Transient FDTD simulation validation. A: International Symposium on Electromagnetic Compatibility. "IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility". Fort Lauderdale: 2010, p. 1-6. |
dc.identifier.citation | 978-1-4244-6307-7 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/11000 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Electromagnetic compatibility |
dc.subject | Finite differences |
dc.subject | Transients (Electricity)--Electromechanical analogies |
dc.subject | Electronic engineering |
dc.subject | Transistors |
dc.subject | Enginyeria electrònica |
dc.title | Transient FDTD simulation validation |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |